智能電源測試老化房適用于計算機、終端機、電源供應器、電子交換機、等電子組件壽命測試。為早期發(fā)現(xiàn)不良品之移處,提高產品的可靠性、為控制成本和保護產品之有效手段。特點:內容積可任意放大縮小,隨使用者環(huán)境需求而設計。
更新時間:2021-04-01
品牌 | 尚測/suncek |
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智能電源測試老化房適用于計算機、終端機、電源供應器、電子交換機、等電子組件壽命測試。為早期發(fā)現(xiàn)不良品之移處,提高產品的可靠性、為控制成本和保護產品之有效手段。特點:內容積可任意放大縮小,隨使用者環(huán)境需求而設計。
一、智能電源測試老化房技術參數(shù):
注:在環(huán)境溫度+25攝氏度時,空載條件下以內箱離各扁1/6距離有效空間測得的數(shù)據(jù)。
二、智能電源測試老化房結構
三、智能電源測試老化房安裝條件